BEHERA, ANIL KUMAR
BEHERA, ANIL KUMAR
Dipartimento di Ingegneria
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A 125 kHz Self-Oscillating Inverter for Inductive Power Transfer Applications With Power MOSFET In-Circuit Self-Test
2025 Benegiamo, Michael; Mariani, Lorenzo; Behera, Anil Kumar; Dionigi, Marco; Orecchini, Giulia; Palazzi, Valentina; Moriconi, Luca; Alimenti, Federico
In-Circuit Self-Test (ICST) of Power MOS Transistors: Measuring Gate Charge as an Indicator of Oxide Stress and Device Reliability
2024 Behera, A. K.; Benegiamo, M.; Moriconi, L.; Orecchini, G.; Palazzi, V.; Alimenti, F.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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| A 125 kHz Self-Oscillating Inverter for Inductive Power Transfer Applications With Power MOSFET In-Circuit Self-Test | 2025 | Benegiamo, Michael; Mariani, Lorenzo; Behera, Anil Kumar; Dionigi, Marco; Orecchini, Giulia; Palazzi, Valentina; Moriconi, Luca; Alimenti, Federico | |
| In-Circuit Self-Test (ICST) of Power MOS Transistors: Measuring Gate Charge as an Indicator of Oxide Stress and Device Reliability | 2024 | Behera, A. K.; Benegiamo, M.; Moriconi, L.; Orecchini, G.; Palazzi, V.; Alimenti, F. |