BEHERA, ANIL KUMAR
 Distribuzione geografica
Continente #
AS - Asia 21
EU - Europa 14
NA - Nord America 11
SA - Sud America 8
Totale 54
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 10
IT - Italia 7
BR - Brasile 6
SG - Singapore 5
VN - Vietnam 5
CN - Cina 4
HK - Hong Kong 4
FR - Francia 2
KR - Corea 2
RU - Federazione Russa 2
AR - Argentina 1
DE - Germania 1
EC - Ecuador 1
HR - Croazia 1
MX - Messico 1
NL - Olanda 1
SA - Arabia Saudita 1
Totale 54
Città #
Hong Kong 4
Ho Chi Minh City 3
Singapore 3
Bologna 2
Perugia 2
San Jose 2
Seoul 2
Amsterdam 1
Ashburn 1
Atlanta 1
Belo Horizonte 1
Brasília 1
Buena Fe 1
Buenos Aires 1
Cincinnati 1
Council Bluffs 1
Haiphong 1
Hanoi 1
Ixtapaluca 1
Lauterbourg 1
Medina 1
Natal 1
Nuremberg 1
Paris 1
Piratini 1
Piscataway 1
Ribeirão Preto 1
Rio de Janeiro 1
San Francisco 1
Verona 1
Zagreb 1
Zibo 1
Zunyi 1
Totale 44
Nome #
In-Circuit Self-Test (ICST) of Power MOS Transistors: Measuring Gate Charge as an Indicator of Oxide Stress and Device Reliability 41
A 125 kHz Self-Oscillating Inverter for Inductive Power Transfer Applications With Power MOSFET In-Circuit Self-Test 16
Totale 57
Categoria #
all - tutte 175
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 175


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2024/20256 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 6
2025/202651 2 7 5 9 0 1 3 5 11 8 0 0
Totale 57