BENEGIAMO, MICHAEL
 Distribuzione geografica
Continente #
AS - Asia 9
EU - Europa 7
NA - Nord America 6
SA - Sud America 6
Totale 28
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 6
BR - Brasile 5
IT - Italia 5
CN - Cina 2
KR - Corea 2
SG - Singapore 2
VN - Vietnam 2
AR - Argentina 1
DE - Germania 1
HK - Hong Kong 1
HR - Croazia 1
Totale 28
Città #
Perugia 2
Seoul 2
Ashburn 1
Atlanta 1
Belo Horizonte 1
Brasília 1
Buenos Aires 1
Cincinnati 1
Haiphong 1
Hanoi 1
Hong Kong 1
Natal 1
Nuremberg 1
Piratini 1
Piscataway 1
Ribeirão Preto 1
San Francisco 1
Singapore 1
Verona 1
Zagreb 1
Zibo 1
Zunyi 1
Totale 24
Nome #
In-Circuit Self-Test (ICST) of Power MOS Transistors: Measuring Gate Charge as an Indicator of Oxide Stress and Device Reliability 30
Totale 30
Categoria #
all - tutte 99
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 99


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2024/20256 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 6
2025/202624 2 7 5 9 0 1 0 0 0 0 0 0
Totale 30