La memoria illustra lo sviluppo e la validazione di un sistema per il rilievo e l’analisi microgeometrica tridimensionale di superfici, costituito da un sottosistema fisico di rilievo della superficie mediante scansione con un sensore dotato di stilo a contatto, e da un sottosistema informatico per l’analisi dei dati rilevati, la ricostruzione della superficie e l'estrazione delle sue proprietà microgeometriche e funzionali. Viene illustrata l'architettura e la funzionalità del sistema, l'interfaccia utente, la procedura di rilievo ed il protocollo di analisi, in relazione al dominio applicativo specifico, e la valutazione delle proprietà della superficie, utili per la soluzione di problematiche tecnologiche e funzionali, esemplificate da casi di studio diversi, relativi ai settori applicativi meccanico, biomedicale e tessile.
Contributo allo sviluppo e validazione di un sistema per il rilievo e l'analisi microgeometrica tridimensionale di superfici
SENIN, Nicola;
2003
Abstract
La memoria illustra lo sviluppo e la validazione di un sistema per il rilievo e l’analisi microgeometrica tridimensionale di superfici, costituito da un sottosistema fisico di rilievo della superficie mediante scansione con un sensore dotato di stilo a contatto, e da un sottosistema informatico per l’analisi dei dati rilevati, la ricostruzione della superficie e l'estrazione delle sue proprietà microgeometriche e funzionali. Viene illustrata l'architettura e la funzionalità del sistema, l'interfaccia utente, la procedura di rilievo ed il protocollo di analisi, in relazione al dominio applicativo specifico, e la valutazione delle proprietà della superficie, utili per la soluzione di problematiche tecnologiche e funzionali, esemplificate da casi di studio diversi, relativi ai settori applicativi meccanico, biomedicale e tessile.I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.