The Resistance Decay after Electromigration as the Effect of Mechanical Stress Relaxation / Baldini, G. L.; Scorzoni, Andrea; Tamarri, F.. - STAMPA. - (1992), pp. 355-358. ((Intervento presentato al convegno 3rd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 92) tenutosi a Schwäbisch-Gmünd, Deutschland nel October 5–8, 1992.
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Titolo: | The Resistance Decay after Electromigration as the Effect of Mechanical Stress Relaxation |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 1992 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11391/923730 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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